Substrato de wafer de quartzo

Substrato de wafer de quartzo

Os substratos de wafer de quartzo são feitos principalmente de quartzo de alta pureza (SiO₂), amplamente utilizados em semicondutores, optoeletrônicos, sistemas micro-eletromecânicos (MEMS), dispositivos ópticos e outros campos . abaixo é uma introdução detalhada para a Quartz Wafer Subs.

Descrição

Propriedades do material

 

(1) Alta pureza: normalmente feita de quartzo sintético (E . g ., sílica fundida), com pureza extremamente alta (maior ou igual a 99 .} 99%) e impurezas mínimas para evitar afetar o desempenho do dispositivo.
(2) Estabilidade térmica: baixo coeficiente de expansão térmica (≈0 . 55 × 10⁻⁶/ grau) e resistência de alta temperatura (ponto de amolecimento ~ 1600 graus), adequado para processos de alta temperatura.
(3) Desempenho óptico: ampla faixa de transmissão (UV para IR), com transmitância excepcional de UV, ideal para máscaras, lentes, etc .
(4) Ineridade química: resistente a ácidos e álcalis (exceto ácido hidrofluórico), adequado para processos de gravação úmida .
(5)  Electrical Insulation : High resistivity (>10 ω · cm), ideal para isolantes substratos ou dispositivos de alta frequência .

 

Aplicações

 

Fabricação de semicondutores

Substratos de máscara de fotomase

Componentes de litografia EUV

Portadores de processamento de bolacha

Fotônica e Optoeletrônica

Substratos ópticos de guia de ondas

Montagem do diodo a laser

Componentes de computação quântica

Aplicações especializadas

Bases de ressonador MEMS

Telescópio espacial óptica

Sistemas a laser de alta energia

 

Processo de fabricação

 

① Síntese da matéria -prima: produzida via deposição de vapor (E . g ., oxidação sicl₄) ou purificação de quartzo natural .}
② Derretimento e formação: derretimento de alta temperatura seguido de resfriamento em lingotes ou desenho direto em hastes .
③ Corte: fatiado em bolachas finas usando serras de fio de diamante ou corte a laser .
④ Moagem e polimento: o polimento mecânico químico (CMP) atinge a suavidade no nível de nanômetros .
⑤ Limpeza e inspeção: Remoção de partículas e contaminantes de metal, seguido de testes de defeito e parâmetro .

 

Propriedades

 

Propriedades físicas

Valores

Pureza

>99.99%

Densidade

2.2g/cm3

Transparência

>90%

Dureza mohs

5.5--6.5

Ponto de deformação

1280 graus

Ponto de amolecimento

1750 graus

Ponto de recozimento

1250 graus

Calor específico (20 - 350 grau)

670J/kg . grau

Condutividade térmica (20 graus)

1 . 4w/m. grau

Condutividade térmica (w/m . k, 1000 graus)

1.0-1.2

Índice de Refração

1.4585

Coeficiente de expansão térmica

5.510 -7cm/cm . grau

Quente - temperatura de trabalho

1750 ~ 2050 graus

Temperatura de serviço curto - termo

1450 graus

Temperatura de serviço longa - termo

1100 graus

 

Propriedades químicas

Valores

Resistente ao ácido

Ácido forte (exceto HF), álcalis fortes, solução orgânica

Alta temperatura resistente à corrosão

Excelente

Conteúdo de impureza metálica

< 5 ppm

 

Propriedades elétricas

Valores

Resistividade

7107Ω . cm

Força de isolamento

250 ~ 400kV/cm

Constante dielétrica

3.7~3.9

Coeficiente de absorção dielétrica

<410-4

Coeficiente de perda dielétrica

<110-4

 

Propriedades mecânicas

Valores

Força de compressão

1100MPA

Força de flexão

67MPA

Resistência à tracção

48MPa

Proporção de Poisson

0.14~0.17

Módulo de Young

72000MPA

Módulo de cisalhamento

31000MPa

 

Por que nos escolher:

 

Personalização:

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Preço competitivo:

Preço da fábrica, mas de alta qualidade

Envio global:

Entrega de porta em porta

 

Perguntas frequentes

 

Q1: Qual é o tamanho máximo de substratos de wafer de quartzo disponível?

R: Produção padrão de até 300 mm de diâmetro, com protótipos de 450 mm disponíveis para P&D .

P2: Você pode fornecer perfis de espessura personalizados?

A: Sim, podemos produzir:
Bolachas de casca (para aplicações a laser)
Designs cônicos de precisão
Superfícies estruturadas por mesa

Q3: Que protocolo de limpeza você recomenda?

A: Processo limpo RCA padrão:
1. remoção orgânica (h₂so₄: h₂o₂)
2. limpeza iônica (hcl: h₂o₂)
3. hf-last para superfície hidrofílica

 

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